Описание
Уязвимость подсистемы ION ядра микропрограммного обеспечения встраиваемых плат Qualcomm связана с недостаточной проверкой входных данных при обработке команд. Эксплуатация уязвимости может позволить нарушителю вызвать отказ в обслуживании или выполнить произвольный код
Вендор
Наименование ПО
Версия ПО
Тип ПО
Операционные системы и аппаратные платформы
Уровень опасности уязвимости
Возможные меры по устранению уязвимости
Статус уязвимости
Наличие эксплойта
Информация об устранении
Ссылки на источники
Идентификаторы других систем описаний уязвимостей
- CVE
EPSS
6.7 Medium
CVSS3
6.6 Medium
CVSS2
Связанные уязвимости
Memory corruption in kernel due to improper input validation while processing ION commands in Snapdragon Auto, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Wearables
Memory corruption in kernel due to improper input validation while processing ION commands in Snapdragon Auto, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Wearables
EPSS
6.7 Medium
CVSS3
6.6 Medium
CVSS2