Описание
Possible buffer overflow due to improper input validation in factory calibration and test DIAG command in Snapdragon Auto, Snapdragon Compute, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon IoT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Voice & Music, Snapdragon Wearables
Possible buffer overflow due to improper input validation in factory calibration and test DIAG command in Snapdragon Auto, Snapdragon Compute, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon IoT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Voice & Music, Snapdragon Wearables
Связанные уязвимости
Possible buffer overflow due to improper input validation in factory calibration and test DIAG command in Snapdragon Auto, Snapdragon Compute, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon IoT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Voice & Music, Snapdragon Wearables
Уязвимость микропрограммного обеспечения встраиваемых плат Qualcomm, вызванная переполнением буфера, позволяющая нарушителю оказать воздействие на конфиденциальность, целостность и доступность защищаемой информации