Описание
There is potential for memory corruption in the RIL daemon due to de reference of memory outside the allocated array length in RIL in Snapdragon Auto, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Wearables in versions MDM9206, MDM9607, MDM9635M, MDM9650, MSM8909W, SD 210/SD 212/SD 205, SD 425, SD 427, SD 430, SD 435, SD 439 / SD 429, SD 450, SD 625, SD 636, SD 650/52, SD 675, SD 712 / SD 710 / SD 670, SD 820A, SD 835, SD 845 / SD 850, SD 855, SDM439, SDM630, SDM660, ZZ_QCS605.
Ссылки
- Third Party Advisory
- Vendor Advisory
- Third Party Advisory
- Vendor Advisory
Уязвимые конфигурации
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
EPSS
7.8 High
CVSS3
7.2 High
CVSS2
Дефекты
Связанные уязвимости
There is potential for memory corruption in the RIL daemon due to de reference of memory outside the allocated array length in RIL in Snapdragon Auto, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Wearables in versions MDM9206, MDM9607, MDM9635M, MDM9650, MSM8909W, SD 210/SD 212/SD 205, SD 425, SD 427, SD 430, SD 435, SD 439 / SD 429, SD 450, SD 625, SD 636, SD 650/52, SD 675, SD 712 / SD 710 / SD 670, SD 820A, SD 835, SD 845 / SD 850, SD 855, SDM439, SDM630, SDM660, ZZ_QCS605.
EPSS
7.8 High
CVSS3
7.2 High
CVSS2