Описание
Possible memory corruption in BSI module due to improper validation of parameter count in Snapdragon Auto, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Mobile
Уязвимые конфигурации
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
EPSS
7.8 High
CVSS3
7.2 High
CVSS2
Дефекты
Связанные уязвимости
Possible memory corruption in BSI module due to improper validation of parameter count in Snapdragon Auto, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Mobile
EPSS
7.8 High
CVSS3
7.2 High
CVSS2