Описание
Transient DOS may occur while processing malformed length field in SSID IEs.
Уязвимые конфигурации
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
Одновременно
EPSS
7.5 High
CVSS3
Дефекты
Связанные уязвимости
Transient DOS may occur while processing malformed length field in SSID IEs.
Уязвимость микропрограммного обеспечения встраиваемых плат Qualcomm, связанная с выходом операции за границы буфера в памяти, позволяющая нарушителю вызвать отказ в обслуживании
EPSS
7.5 High
CVSS3