Количество 3
Количество 3
CVE-2022-25696
Memory corruption in display due to time-of-check time-of-use race condition during map or unmap in Snapdragon Auto, Snapdragon Compute, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Wearables
GHSA-35f3-6m6g-7f92
Memory corruption in display due to time-of-check time-of-use race condition during map or unmap in Snapdragon Auto, Snapdragon Compute, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Wearables
BDU:2022-06015
Уязвимость компонента Display микропрограммного обеспечения встраиваемых плат Qualcomm, позволяющая нарушителю вызвать отказ в обслуживании или выполнить произвольный код
Уязвимостей на страницу
Уязвимость | CVSS | EPSS | Опубликовано | |
|---|---|---|---|---|
 | CVE-2022-25696 Memory corruption in display due to time-of-check time-of-use race condition during map or unmap in Snapdragon Auto, Snapdragon Compute, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Wearables | CVSS3: 8.4 | 0% Низкий | больше 3 лет назад |
| GHSA-35f3-6m6g-7f92 Memory corruption in display due to time-of-check time-of-use race condition during map or unmap in Snapdragon Auto, Snapdragon Compute, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Wearables | CVSS3: 7 | 0% Низкий | больше 3 лет назад |
 | BDU:2022-06015 Уязвимость компонента Display микропрограммного обеспечения встраиваемых плат Qualcomm, позволяющая нарушителю вызвать отказ в обслуживании или выполнить произвольный код | CVSS3: 8.4 | 0% Низкий | почти 4 года назад |
Уязвимостей на страницу