Описание
Memory corruption may occour while generating test pattern due to negative indexing of display ID.
Уязвимые конфигурации
Конфигурация 1
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:fastconnect_6700_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:fastconnect_6700:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 2
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:fastconnect_6900_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:fastconnect_6900:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 3
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:fastconnect_7800_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:fastconnect_7800:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 4
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:qcm5430_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:qcm5430:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 5
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:qcm6490_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:qcm6490:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 6
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:qcs5430_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:qcs5430:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 7
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:qcs6490_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:qcs6490:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 8
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:video_collaboration_vc3_platform_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:video_collaboration_vc3_platform:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 9
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:sc8380xp_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:sc8380xp:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 10
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:sdm429w_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:sdm429w:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 11
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:snapdragon_429_mobile_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:snapdragon_429_mobile:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 12
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:snapdragon_7c\+_gen_3_compute_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:snapdragon_7c\+_gen_3_compute:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 13
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:sc8280xp-abbb_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:sc8280xp-abbb:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 14
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:wcd9370_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:wcd9370:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 15
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:wcd9375_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:wcd9375:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 16
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:wcd9380_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:wcd9380:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 17
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:wcd9385_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:wcd9385:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 18
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:wcn3620_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:wcn3620:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 19
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:wcn3660b_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:wcn3660b:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 20
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:wsa8830_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:wsa8830:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 21
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:wsa8835_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:wsa8835:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 22
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:wsa8840_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:wsa8840:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 23
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:wsa8845_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:wsa8845:-:*:*:*:*:*:*:*
Конфигурация 24
Одновременно
cpe:2.3:o:qualcomm:wsa8845h_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
cpe:2.3:h:qualcomm:wsa8845h:-:*:*:*:*:*:*:*
EPSS
Процентиль: 5%
0.00024
Низкий
7.8 High
CVSS3
Дефекты
CWE-823
CWE-119
Связанные уязвимости
CVSS3: 7.8
github
7 месяцев назад
Memory corruption may occour while generating test pattern due to negative indexing of display ID.
CVSS3: 7.8
fstec
7 месяцев назад
Уязвимость микропрограммного обеспечения встраиваемых плат Qualcomm, связанная со смещением указателя за границы выделенной памяти, позволяющая нарушителю вызвать отказ в обслуживании
EPSS
Процентиль: 5%
0.00024
Низкий
7.8 High
CVSS3
Дефекты
CWE-823
CWE-119