Описание
Memory corruption may occour while generating test pattern due to negative indexing of display ID.
Memory corruption may occour while generating test pattern due to negative indexing of display ID.
Связанные уязвимости
CVSS3: 7.8
nvd
больше 1 года назад
Memory corruption may occour while generating test pattern due to negative indexing of display ID.
CVSS3: 7.8
fstec
больше 1 года назад
Уязвимость микропрограммного обеспечения встраиваемых плат Qualcomm, связанная со смещением указателя за границы выделенной памяти, позволяющая нарушителю вызвать отказ в обслуживании