Описание
Memory corruption may occour while generating test pattern due to negative indexing of display ID.
Memory corruption may occour while generating test pattern due to negative indexing of display ID.
Связанные уязвимости
CVSS3: 7.8
nvd
9 месяцев назад
Memory corruption may occour while generating test pattern due to negative indexing of display ID.
CVSS3: 7.8
fstec
10 месяцев назад
Уязвимость микропрограммного обеспечения встраиваемых плат Qualcomm, связанная со смещением указателя за границы выделенной памяти, позволяющая нарушителю вызвать отказ в обслуживании