Количество 3
Количество 3
CVE-2024-45573
Memory corruption may occour while generating test pattern due to negative indexing of display ID.
GHSA-28jh-5pxq-q92w
Memory corruption may occour while generating test pattern due to negative indexing of display ID.
BDU:2025-05518
Уязвимость микропрограммного обеспечения встраиваемых плат Qualcomm, связанная со смещением указателя за границы выделенной памяти, позволяющая нарушителю вызвать отказ в обслуживании
Уязвимостей на страницу
Уязвимость | CVSS | EPSS | Опубликовано | |
|---|---|---|---|---|
 | CVE-2024-45573 Memory corruption may occour while generating test pattern due to negative indexing of display ID. | CVSS3: 7.8 | 0% Низкий | 7 месяцев назад |
| GHSA-28jh-5pxq-q92w Memory corruption may occour while generating test pattern due to negative indexing of display ID. | CVSS3: 7.8 | 0% Низкий | 7 месяцев назад |
 | BDU:2025-05518 Уязвимость микропрограммного обеспечения встраиваемых плат Qualcomm, связанная со смещением указателя за границы выделенной памяти, позволяющая нарушителю вызвать отказ в обслуживании | CVSS3: 7.8 | 0% Низкий | 7 месяцев назад |
Уязвимостей на страницу